Análisis de fluorescencia de rayos X chamota

Datos clave de chamota

Composición: Productos refractarios compuestos por los principales componentes Al₂O₃y SiO₂.
Materias primas: Arcilla, caolín (o sus productos sinterizados), alumosilicatos como andalusita, sillimanita, mullita, así como bauxita sinterizada y corindón.
Uso de ladrillos refractarios: Construcción de combustión, altos hornos, fundiciones siderúrgicas, hornos de coque y gas, industria del vidrio y el cemento.

Tipos de examen para el análisis de la chamota

Varios programas de medición extensos para el análisis por fluorescencia de rayos X de la chamota procedente de la digestión de la masa fundida
Análisis de cribado de hasta 71 elementos de un polvo compacto
Investigaciones complementarias
- Determinación de la densidad aparente y de la porosidad
- Análisis de carbono – TC, TOC, TIC
- Microanálisis de rayos X, EDX para identificar inclusiones, impurezas

Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión

XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Para el análisis de muestras oxídicas y oxidables de diferentes composiciones como fibras de vidrio y de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, materiales de construcción cerámicos o ligados a minerales y muchos más.
En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.

! Por favor, tenga en cuenta !

Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios XRF.

Análisis de cribado sobre 71 elementos

El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.