Análisis de fluorescencia de rayos X Espinela

Datos clave de la espinela, piedra de espinela, magnesio aspinal

Composición: MgO x Al₂O₃, instalación de otros óxidos de metales de grado 2 y 3 como FeO, MnO, ZnO, Fe₂O₃, Cr₂O₃.

Materias primas: Depósitos de cromita en rocas ultrabásicas. Producción de espinela a partir de alúmina y magnesia por fusión en horno de arco eléctrico = espinela de fusión, o en hornos rotativos o de eje = espinela de sinterización.

Uso: Altos hornos, hornos de cemento, hornos de vidrio, fundición de metales no ferrosos.

Tipos de ensayos para el análisis de la espinela

Varios programas de medición completos para el análisis por fluorescencia de rayos X de la espinela procedente de la digestión de la masa fundida
Análisis de cribado de hasta 71 elementos de un polvo compacto
Investigaciones complementarias
- Determinación de la densidad aparente y de la porosidad
- Análisis de carbono – TC, TOC, TIC
- Microanálisis de rayos X, EDX para la identificación de inclusiones, impurezas, etc.

Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión

XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Para el análisis de muestras oxidadas y oxidables de diversas composiciones, tales como vidrio y fibras de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, cerámica o. En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.

! Por favor, tenga en cuenta !

Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios XRF.

Análisis de cribado sobre 71 elementos

El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.